UltraMicrotome EM UC7 de LEICA microsystems (FRENCH ONLY)

Lieu: Nouville (UNC)

Il permet de préparer facilement des sections semi-fines et ultra-minces TEM à température Ambiante, ainsi que des surfaces planes pour SEM, AFM et autres techniques pour des échantillons biologiques et industriels.

Il a une mise en œuvre simple et une vision parfaite des échantillons, de plus en plus petits (loupe type CMO unique). Par contre, il n’y a pas de possibilité d’évolution vers un mode cryo.

Microscopie électronique à balayage (MEB), JSM-IT300 LV de JEOL (FRENCH ONLY)

Lieu: Nouville (UNC)

Ce microscope permet l’observation d’une grande variété d’échantillons, des polymères aux matériaux métalliques en passant par les poudres et les échantillons biologiques.

L’imagerie en électrons rétrodiffusés permet l’obtention d’un contraste « chimique » tandis que celle en électrons secondaires permet d’obtenir un contratse « topographique » des échantillons, avec une résolution de quelques dizaines de nanomètres.

Microscopie électronique à transmission (MET), JEM-1400Flash Aimante de JEOL (FRENCH ONLY)

Lieu: Nouville (UNC)

Ce microscope permet d’obtenir des images à très fort grandissement d’échantillons solides à l’échelle atomique et offre même la possibilité de faire de la tomographie.

Le MET permet également l’acquisition de clichés de diffraction du matériau étudié.

Une analyse chimique locale est réalisable grâce à une sonde (EDX) couplée à ce microscope, détectant la présence d’éléments chimiques.