Microscopie électronique à balayage (MEB), JSM-IT300 LV de JEOL

Microscopie électronique à balayage (MEB), JSM-IT300 LV de JEOL

Lieu: Nouville (UNC)

Ce microscope permet l’observation d’une grande variété d’échantillons, des polymères aux matériaux métalliques en passant par les poudres et les échantillons biologiques.

L’imagerie en électrons rétrodiffusés permet l’obtention d’un contraste « chimique » tandis que celle en électrons secondaires permet d’obtenir un contratse « topographique » des échantillons, avec une résolution de quelques dizaines de nanomètres.

Le mode Low vaccum ou pression contrôlée de ce microscope permet l’observation d’échantillons non conducteurs, humides, ou sensibles au vide.

Cet appareil est équipé d’une sonde chimique (EDX), capable de détecter les éléments chimiques présents dans le matériau étudié.

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p2m@unc.nc
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290 580
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