
Diffractomètre à rayons X aeris (DRX) (Panalytical)
Lieu: Nouville (UNC)
Cette technique est basée sur la diffraction des rayons X sur matière cristalline. L’échantillon solide est préalablement broyé, l’analyse s’effectuant sur une poudre. Le résultat se présente sous forme d’un diffractogramme qui, une fois traité, permet d’identifier les phases minérales présentes et les quantifier (Rietveld, PONKCS).
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